賽默飛Nexsa G2 X 射線光電子能譜儀

簡要描述：賽默飛Nexsa G2 X 射線光電子能譜儀可進行全自動、高通量的表面分析，提供用于推進研發(fā)或解決生產(chǎn)問題的數(shù)據(jù)。集成 XPS 與離子散射譜(ISS)、紫外光電子能譜 (UPS)、反射電子能量損失譜(REELS)和拉曼光譜，讓您進行真正的聯(lián)用分析。

產(chǎn)品型號：
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時間：2024-02-21
訪問量：1661

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產(chǎn)品分類CLASSIFICATION

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詳細介紹

品牌	Thermofisher Scientific/賽默飛世爾	窗口類型	-
探測器面積	-mm	最大計數(shù)率	-cps
峰背比	-	分辨率	-eV
價格區(qū)間	40萬-50萬	探測器類	鋰漂移硅探測器Si(Li)
儀器種類	進口	應用領域	環(huán)保,化工,生物產(chǎn)業(yè),石油,制藥

賽默飛Nexsa G2 X 射線光電子能譜儀標準化性能：

· 絕緣體分析

· 高性能XPS性能

· 深度剖析

· 多技術聯(lián)合

· 雙模式離子源，使深度剖析功能得到擴展

· 用于 ARXPS 測量的傾斜模塊

· 用于儀器控制、數(shù)據(jù)處理和報告生產(chǎn)的 Avantage 軟件

· 小束斑分析

可選的升級：可將多種分析技術集成到您的檢測分析中。式自動運行

· ISS：離子散射譜，分析材料表面1-2原子層元素信息，通過質(zhì)量分辨可分析一些同位素豐度信息。

· UPS：紫外光電子能譜用于分析金屬/半導體材料的價帶能級結構信息以及材料表面功函數(shù)信息

· 拉曼：拉曼光譜技術用于提供分子結構層面的指紋信息

· REELS：反射電子能量損失譜可用于H元素含量的檢測以及材料能級結構和帶隙信息

賽默飛Nexsa G2 X 射線光電子能譜儀應用領域

· 電池

· 生物醫(yī)藥

· 催化劑

· 陶瓷

· 玻璃涂層

· 石墨烯

· 金屬和氧化物

· 納米材料

· OLED

· 聚合物

· 半導體

· 太陽能電池

· 薄膜

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